Cristallographie : analyse par DRX en laboratoire
Le Groupe 6NAPSE réalise l’analyse DRX (diffraction des rayons X) pour aider les industriels à mieux comprendre la structure de leurs matériaux et leur cristallographie.
Qu’est-ce que la cristallographie ?
La cristallographie consiste à analyser la structure atomique des matériaux dits cristallins, pour en comprendre les propriétés. L’état cristallin est défini par un caractère périodique et ordonné à l’échelle atomique ou moléculaire.
Analyse cristallographique par DRX en laboratoire
Le Groupe 6NAPSE caractérise les matériaux cristallisés, qu’ils soient massifs, sous forme de poudre ou de dépôts. En effet, notre laboratoire réalise la caractérisation des matériaux inorganiques (minéraux, métaux, alliages, céramiques…).
Nous réalisons aussi la mesure de l’intensité du rayonnement X diffracté sur le matériau (les conditions de diffraction sont données par la loi de Bragg).
La diffraction des rayons X (DRX) est une technique non-destructive pour identifier et caractériser les matériaux polycristallins afin d’en déterminer leur cristallographie, leur structure polymorphique, leurs phases et d’observer leurs changements de cristallinité.
Les mesures peuvent être menées en température.
Applications
- Minéralogie déterminative : identification des phases cristallisées
- Suivi des transformations cristallochimiques lors de réactions (ex: séchage ou hydratation).
- Affinement de structure cristallographique
- Mesure de texture cristallographique
- Détermination de contraintes résiduelles
- Cartographie de l’espace réciproque
- Analyse de la cristallinité des poudres
Caractéristiques techniques
- Appareillage : Diffractomètre à rayons X RIGAKU, modèle Miniflex 600 HR
- Types d’échantillon : poudres, massif
- Générateur de rayons X : 30kV, 15 mA
- Détecteur Tube rayons X : Tube anticathode de cuivre
- Goniomètre :
- Longueur 150 mm
- Domaine -3° à 150° (2theta)
- Vitesse de scan : 0,01° à 100°/min (2theta)
Principe de fonctionnement de la DRX (Diffraction des Rayons X)
Le matériau est bombardé par un faisceau de rayons X monochromatiques et parallèles de longueur d’onde connue produit par une anticathode de cuivre. L’échantillon est placé au centre d’un dispositif rotatif et tourne lui-même d’un mouvement uniforme autour de l’axe situé dans son plan (cercle goniométrique). Le faisceau incident qui se diffracte sur la structure cristalline du matériau vérifie la loi de Bragg :
– n. = 2.d.sin ø
– avec l la longueur d’onde du faisceau incident,
– d la distance entre 2 plans cristallins,
– ø l’angle des rayons diffractés.
Le compteur goniométrique mesure l’intensité du rayonnement X diffracté sur le matériau. L’enregistrement réalisé est la courbe de l’intensité des rayons X diffractés en fonction des angles de diffraction.
Atouts du Groupe 6NAPSE
- Un laboratoire spécialiste en analyse des matériaux
- Grandes bases de données matériaux
- Urgence et délais courts
- Nos experts techniques sont disponibles pour échanger sur votre besoin analytique, avec les référentiels et normes adaptés.
Contactez-nous pour échanger rapidement et techniquement sur votre besoin !