Microscopie Électronique à Balayage couplée à la Microanalyse X (MEB-EDX)
Analyse MEB-EDX
Caractérisation morphologique et élémentaire des matériaux en surface et à cœur
Cet équipement permet de fournir rapidement des informations sur la morphologie et la composition élémentaire d’un objet solide. Sa grande commodité d’utilisation, sa souplesse pour visualiser des champs d’extension très variables sur des échantillons massifs, l’étendue de sa profondeur de champ font du MEB un outil indispensable dans l’exploration du monde microscopique.
Nos moyens à pression variable permettent l’analyse de nombreux matériaux (plastiques, métal, verre, minéral,…).
Il est constitué de deux appareillages couplés :
Le MEB
Technique de microscopie électronique basée sur le principe des interactions électrons-matière, capable de produire des images en haute résolution de la surface d’un échantillon.
La microanalyse X
Le détecteur EDX reçoit les photons émis par la matière suite à l’excitation électronique, puis fais le tri suivant leur énergie. Chaque valeur d’énergie étant caractéristique d’un niveau d’énergie d’un élément chimique, il est possible d’identifier les éléments contenus dans la matière.
Cette technique permet donc d’obtenir simultanément des informations morphologiques (images) et chimiques (composition élémentaire) d’un échantillon.
Applications
Les applications sur ce moyen sont nombreuses au vu de ses capacités. Voici une liste non-exhaustive des possibilités :
- Analyse et expertise des polymères
- Expertise du verre
- Analyse d’un défaut d’aspect
- Expertise fractographique
- Etude des phénomènes de corrosion
- Fiabilité des composants mécatroniques
- Mesures d’épaisseurs de couches et analyse élémentaire des revêtements et des charges
- Analyse et identification des corps étrangers (particule, fibre, dépôt inconnus, filaments, …)
- Morphologie des poudres métalliques, minérales ou organiques
- Caractérisation des phénomènes de rupture par fatigue
- Caractérisation morphologique et élémentaire de charges additionnelles d’un produit (peinture par exemple)
Caractéristiques techniques de nos MEB
Nous sommes équipés de 3 Microscopes électroniques à balayage à pression variable HITACHI S3000N, S3400N, SU3500 :
- Grandissement jusqu’à x 100 000
- Pression variable -> Pas de métallisation sur les échantillons non conducteurs
- Platine Pelletier : congélation des échantillons organiques à -30°C pour une observation non destructive
- 2 types d’images : contraste topographique (mode SE) et contraste chimique (mode BSE)
Détecteur EDX UltraDry, Thermo Electron :
- Cristal Si, fenêtre NORVAR
- Détection à partir du béryllium
- Résolution en énergie : <132 eV sur la raie K (Mn)
- Résolution spatiale : 1 µm3
Accréditation n°1-1720
Portée disponible sur www.cofrac.fr
Le laboratoire Analyses et Surface du Groupe 6NAPSE dispose de l’accréditation COFRAC (n°1-1720) pour le prélèvement et la caractérisation de corps étrangers (particules, fibres) par Microscopie Electronique à Balayage couplée à la Microanalyse X (MEB-EDX), stéréoscopie et microscopie infrarouge (IRTF).
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